原创来源:北检院 发布时间:2023-11-29 13:51:28 点击数:
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碳化硅检测去哪里做?北检院检测范围:α-碳化硅、β-碳化硅、6H-碳化硅、4H-碳化硅、3C-碳化硅等,检测项目:微硬度、拉伸试验、压缩试验、抗弯强度等,碳化硅检测仪器包括:绝缘电阻测试仪、数字接地电阻测试仪、介质损耗测试仪、相序检测仪、温度试验箱等。
检测仪器检测周期:7-15个工作日,参考周期
α-碳化硅、β-碳化硅、6H-碳化硅、4H-碳化硅、3C-碳化硅等。
微硬度、拉伸试验、压缩试验、抗弯强度、磨损、摩擦系数、导热系数等。
X射线衍射法:XRD是一种常用的材料表征技术,可用于分析晶体结构和晶体取向。通过测量样品中入射X射线与晶体结构相互作用后的衍射图案,可以确定样品中存在的碳化硅晶体结构。
扫描电子显微镜法:SEM能够提供高分辨率的表面形貌和成分信息。通过在SEM下观察样品表面的形貌和结构,可以初步确定是否存在碳化硅,并进行形貌分析。
能谱仪:EDS是与SEM联用的一种成分分析技术。它可以对样品表面进行元素成分分析,从而确定碳化硅中的主要元素。
拉曼光谱法:拉曼光谱可以提供有关材料的结构、化学成分和应力信息。通过测量样品散射的激光光谱,可以确定碳化硅的结构和纯度。
热导率测试法:碳化硅具有优异的热导率,可以通过测量样品的热导率来初步判断其是否为碳化硅材料。
涂层检测法:在涂层工程中,常用的方法是通过在样品表面沉积一层金属薄膜,然后使用X射线衍射、SEM等方法对涂层进行分析,以确定其中是否含有碳化硅。
硅碳化物分析仪、碳化硅缺陷检测仪、硅碳化物颗粒计数器、碳化硅薄膜测厚仪、碳化硅表面质量检测仪、硅碳化物晶体缺陷测定仪、碳化硅颗粒分布分析仪、碳化硅材料导热系数测试仪、碳化硅功率模块测试仪、碳化硅电阻率测量仪等。
GB/T 2480-2022 普通磨料 碳化硅
GB/T 3045-2017 普通磨料 碳化硅化学分析方法
GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法
GB/T 34520.4-2017 连续碳化硅纤维测试方法 第4部分:束丝拉伸性能
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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