正向电流传输比检测
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检测样品
双极型晶体管半导体分立器件和集成电路光电子器件光电耦合器半导体光电耦合器光电子器件光耦合器半导体 晶体三极管双极性晶体管
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
正向电流传输比电流传输比CTR共发射极正向电流传输比的静态值共发射极正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法） h21E电流传输比共发射极正向电流传输比共发射极正向电流传输比（输出电压保持不变）（直流或脉冲法）h21E
检测标准
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第2节7
半导分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.1
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9
半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第IV第1节9.6
半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章第1节9.6
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 5.9节
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.1
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法5.9
半导体器件 分立器件和集成电路第5部分：光电子器件 GB/T 15651-1995 IEC 747-5:1992 第IV章 3.1
半导体器件光电子器件分规范 GB 12565－1990 表D2
半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章：双极型晶体管 GB/T4587-1994 9.6
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 5.9
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T4587-1994 第Ⅳ章第1节9.6
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 Ⅳ.1.9.6
半导体器件光电子器件分规范 GB/T 12565-1990 附录D 表D2 光耦合器
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章 第2节第7条
半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极性晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ篇第2节第7条
半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 5.1
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 /第IV章、第2节、7
半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 第Ⅳ章 第3节
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994 /第Ⅳ篇第2节7.1
《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第IV章第2节7
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
