半导体老化试验

原创来源：北检院    发布时间：2023-08-16 10:30:24    点击数：

全国服务领域：河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门

半导体老化试验可以去哪里做?服务范围：微处理器(CPU)、存储器(如内存芯片)、显卡和图形处理器(GPU)、集成电路(IC)和集成电路芯片组等，服务项目：半导体老化试验、高温老化、温度循环、恶劣环境老化、电压应力、高电流老化等，半导体老化试验仪器包括：恒温箱、烘箱、温度循环测试设备、加速老化测试设备、高压测试设备等。

检测周期：7-15个工作日，参考周期

半导体老化试验范围

微处理器(CPU)、存储器(如内存芯片)、显卡和图形处理器(GPU)、集成电路(IC)和集成电路芯片组、传感器和控制芯片、移动电话和智能手机、通信基站和设备、无线网络设备、蓝牙和Wi-Fi模块、光纤通信芯片、引擎控制单元(ECU)、制动和稳定系统、导航和娱乐系统、驾驶员辅助系统(如自动驾驶)、电动汽车电池管理系统、医疗诊断设备(如MRI、心电图仪等)、病患监测设备、人工器官和假肢、生物芯片和基因测序设备等。

半导体老化试验项目

高温老化、温度循环、恶劣环境老化、电压应力、高电流老化、加速老化、寿命检测、可靠性、热稳定性、电气稳定性、压力老化、湿热老化、急速温度变化、高湿度老化、相对热老化、热膨胀老化、电磁辐射老化、循环电压老化、电热应力老化等。

半导体老化试验方法

高温老化测试：将半导体器件置于高温环境中，如恒温箱或烘箱中，以模拟长时间高温运行的情况。可以通过测量器件参数的变化来评估器件的稳定性和寿命。

温度循环测试：在不同温度之间进行周期性切换，模拟器件在工作过程中由于温度变化引起的热应力。这种测试可以检测器件在温度变化下的可靠性和稳定性。

恶劣环境老化测试：将半导体器件暴露在极端环境条件下，如高湿度、高盐度、气候变化、腐蚀性气体等，以评估器件的抗环境腐蚀和耐久性能。

电压应力测试：对器件施加高压或高电场，并持续一段时间进行测试，以模拟电场应力对器件的影响。这可以评估器件的电气稳定性和耐压性能。

高电流老化测试：通过施加高电流或大电流脉冲，模拟器件在工作过程中的高电流负载情况。这种测试可以评估器件的热稳定性和寿命。

加速老化测试：将器件置于恶劣条件下，并增加环境因素(如温度、湿度等)以加速老化过程。通过比较加速老化后的器件与正常使用条件下的器件的性能变化，可以预测正常使用情况下的器件寿命。

半导体老化试验仪器

恒温箱、烘箱、温度循环测试设备、加速老化测试设备、高压测试设备、高电流测试设备、震动台、盐雾试验箱、环境湿度控制器、光照老化测试设备等。

半导体老化试验标准

CEI EN 60191-6-16-2008 半导体器件的机械标准化。第6-16部分:BGA、LGA、FBGA和FLGA的半导体测试和老化插座词汇。第一版

IEC 60191-6-16-2007 半导体器件的机械标准化 第6-16部分:半导体试验的术语表以及BGA、LGA、FBGA和FLGA用老化座

BS EN 60749-5-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:恒态温度湿度偏差寿命试验

检测流程

1、确认客户委托，寄样。

2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议，进行试验。

5、完成试验，确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示：暂不接受个人委托测试

以上是关于"半导体老化试验"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！

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