数字集成电路-输入/输出电气接口-模型规范
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-14 02:17:31 点击数：
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GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC TS 62404:2007
逻辑数字集成电路.集成电路I/O接口模型规范（IMIC版本1.3）
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-02-20
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS DD IEC/TS 62404:2007
逻辑数字集成电路 集成电路I/O接口模型规范（IMIC版本1.3）
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2007-03-30
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
JJG 1015-2006
通用数字集成电路测试系统
- 【发布单位或类别】 CN-JJG国家计量检定规程
- 【发布日期】2006-12-08
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 17572-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L56微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 9424-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L56微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-10-07
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17024-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-10-07
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56石油勘探、开发、集输设备
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
JJF 1160-2006
中小规模数字集成电路测试设备校准规范
- 【发布单位或类别】 CN-JJF国家计量技术规范
- 【发布日期】2006-12-08
- 【CCS分类】石油勘探、开发、集输设备
- 【ICS分类】电学、磁学、电和磁的测量
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200电学、磁学、电和磁的测量
SJ/T 10196-1991
中小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-05-28
- 【CCS分类】E90/99
- 【ICS分类】17.220集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-3-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第3节:HCMOS数字集成电路空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
SJ/T 10195-1991
中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-05-28
- 【CCS分类】E90/99
- 【ICS分类】17.220
BS IEC 60748-2-12:2001
半导体器件 集成电路 数字集成电路
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2001-06-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60748-2-2001(2021)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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