半导体集成电路-电平转换器测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-14 02:29:13 点击数：
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GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42839-2023
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10804-1996
半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 42973-2023
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
QJ 3044-1998
半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】1998-02-06
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 18500.1-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器（DAC）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2001-11-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ 50597.6-1994
半导体集成电路JC4049.JC4050型CMOS缓冲器电平转换器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】
SJ 50597/6-1994
半导体集成电路 ＪＣ４０４９、ＪＣ４０５０型ＣＭＯＳ缓冲器／电平转换器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】
SJ 50597/28-1994
半导体集成电路 ＪＣ４５０４型ＣＭＯＳ六ＴＴＬ／ＣＭＯＳ－ＣＭＯＳ电平转换器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-09-30
- 【CCS分类】L56技术管理
- 【ICS分类】
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 10252-1991
半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1991-11-12
- 【CCS分类】N01
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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