半导体集成电路-低电压差分信号电路测试方法
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高新技术企业
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4377-1996
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10805-2000
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2000-12-28
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 11007-1996
半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
SJ/T 10738-1996
半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】31.260
SJ 50597/61-2005
半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2006-01-18
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】
SJ 50597/32-1995
半导体集成电路 ＪＷ４８０５、ＪＷ４８１０、ＪＷ４８１２型三端低压差固定正输出电压调整器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1995-05-25
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】
IEC 60748-23-2:2002
半导体器件 - 集成电路 - 第23-2部分:混合集成电路和薄膜结构 - 制造线认证 - 内部目视检查和特殊测试
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-05-23
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
