串行NOR型快闪存储器接口规范
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-14 02:43:21 点击数：
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GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 11701-2018
通用NAND型快闪存储器接口
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2018-02-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 11585-2016
串行存储器接口要求
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2016-01-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
JEDEC JESD251A
非易失性存储器设备的扩展串行外围接口（xSPI）
- 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
- 【发布日期】2020-02-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
JEDEC JESD251
用于非易失性存储器设备的扩展串行外围接口（xSPI） 1.0版
- 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
- 【发布日期】2018-08-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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