MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-14 10:04:18 点击数：
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GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-07-12
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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