MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-07-12
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
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