连续碳化硅纤维测试方法-第2部分：单纤维直径
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-14 12:18:34 点击数：
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GB/T 34520.2-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第2部分：单纤维直径
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.5-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第5部分：单纤维拉伸性能
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.9-2021
连续碳化硅纤维测试方法 第9部分：碳含量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.020航空器和航天器综合
GB/T 34520.8-2021
连续碳化硅纤维测试方法 第8部分：氧含量
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-08-20
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.020航空器和航天器综合
GB/T 34520.6-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.7-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第7部分：高温强度保留率
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.4-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第4部分：束丝拉伸性能
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.3-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第3部分：线密度和密度
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 34520.1-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第1部分：束丝上浆率
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 43760-2024
低氧高碳型连续碳化硅纤维
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】V10航空、航天材料基础标准
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 42905-2023
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 42902-2023
碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 32278-2015
碳化硅单晶片平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-07-24
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 42271-2022
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-04-30
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-04-30
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2015-04-30
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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