连续碳化硅纤维测试方法-第3部分：线密度和密度
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高新技术企业
GB/T 34520.3-2017
连续碳化硅纤维测试方法 第3部分：线密度和密度
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
- 【ICS分类】49.025.99其他材料
GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-10-12
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 43313-2023
碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-11-27
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
20231108-T-469
碳化硅单晶片微管密度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
T/IAWBS 014-2021
碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-09-15
- 【CCS分类】H17化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IAWBS 012-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H83
- 【ICS分类】29.045半导体材料
