连续碳化硅纤维测试方法-第3部分:线密度和密度
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-14 12:24:32 点击数:
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连续碳化硅纤维测试方法 第3部分:线密度和密度
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2017-11-01
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【CCS分类】V13航空与航天用非金属材料
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【ICS分类】49.025.99其他材料
碳化硅单晶位错密度的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2022-10-12
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-11-27
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
碳化硅单晶片微管密度测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】半金属及半导体材料分析方法
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【ICS分类】77.040金属材料试验
碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2021-09-15
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【CCS分类】H17化合物半导体材料
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【ICS分类】29.045半导体材料
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
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【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
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【发布日期】2019-12-27
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【CCS分类】H83
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【ICS分类】29.045半导体材料
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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