半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

2024-12-14 15:44:49 阅读 检测标准
CMA资质认定

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高新技术企业

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GB/T 14862-1993

半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1993-12-30
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 42838-2023

半导体集成电路 霍尔电路测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-08-06
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 14113-1993

半导体集成电路封装术语

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1993-01-21
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 42970-2023

半导体集成电路 视频编解码电路测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 15878-2015

半导体集成电路 小外形封装引线框架规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 14028-2018

半导体集成电路 模拟开关测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-03-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 42975-2023

半导体集成电路 驱动器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 15877-2013

半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-12-31
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 43061-2023

半导体集成电路 PWM控制器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-03-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 35006-2018

半导体集成电路 电平转换器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-03-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 35007-2018

半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-03-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 43040-2023

半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 14112-2015

半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 16525-2015

半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 36477-2018

半导体集成电路 快闪存储器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-06-07
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 42848-2023

半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-08-06
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 15876-2015

半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-05-15
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 43226-2023

宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】V25电子元器件
  • 【ICS分类】49.140航天系统和操作装置

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路 电压比较器测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2018-02-09
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学