用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

GB/T 14863-2013

用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-12-31
  • 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 14863-1993

用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1993-12-30
  • 【CCS分类】L41半导体二极管
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

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