用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
GB/T 35309-2017
用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-12-29
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 29057-2023
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 29057-2012
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2012-12-31
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F1708-02
Meter-Zoner光谱法评估颗粒状多晶硅的标准实践（2003年提出）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-01-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
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