微电路模块机械和气候试验方法

原创来源:北检院    发布时间:2024-12-16 06:45:17    点击数:

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GB/T 15297-1994

微电路模块机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1994-12-06
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

SJ/T 10745-1996

半导体集成电路机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1996-11-20
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】半导体器分立件综合

GB/T 4937.1-2006

半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-08-23
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01半导体分立器件

SJ/Z 9016-1987

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】1987-09-14
  • 【CCS分类】L04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】半导体器分立件综合

GB/T 4937-1995

半导体器件机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1995-12-22
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080半导体器分立件综合

BS EN IEC 60749-39:2022

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2022-03-07
  • 【CCS分类】半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】

20201540-T-339

半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2020-04-01
  • 【CCS分类】L40
  • 【ICS分类】31.080.01

KS C IEC 60749-2004(2020)

半导体器件机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2004-08-13
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.080.01

BS EN IEC 60749-41:2020

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-09-09
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN IEC 60749-30:2020

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-09-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN IEC 60749-20:2020

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-10-14
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN IEC 60749-15:2020

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-10-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN IEC 60749-17:2019

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2019-05-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN IEC 60749-18:2019

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2019-06-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-3:2017

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-11-24
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-5:2017

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-07-20
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-9:2017

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-11-27
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-4:2017

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-11-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-6:2017

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2017-11-24
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN 60749-44:2016

半导体器件 机械和气候试验方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2016-11-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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