非本征半导体材料导电类型测试方法

2024-12-17 00:55:03 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

高新技术企业

GB/T 1550-2018

非本征半导体材料导电类型测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-12-28
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验

GB/T 1550-1997

非本征半导体材料导电类型测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1997-06-03
  • 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合

ASTM F42-93(1997)

非本征半导体材料导电类型的标准试验方法

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】1997-12-10
  • 【CCS分类】半金属与半导体材料综合
  • 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合

YS/T 679-2008

非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2008-03-12
  • 【CCS分类】H80金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

ASTM F42-02

外部半导体材料导电类型的标准测试方法(2003年退出)

  • 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
  • 【发布日期】2002-12-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

YS/T 679-2018

非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法

  • 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
  • 【发布日期】2018-10-22
  • 【CCS分类】H21
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验