硅、锗单晶电阻率测定-直排四探针法
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高新技术企业
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
GB/T 1551-2021
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
\u0413\u041e\u0421\u0422 24392-80
单晶硅和锗 通过四探针法测量电阻率
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2011-01-10
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
GB/T 39978-2021
纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】G13氧化物、单质
- 【ICS分类】59.100.20碳纤维材料
YS/T 602-2017
区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2017-07-07
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
YS/T 602-2007
区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2007-11-14
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
DB13/T 5026.3-2019
石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-DB13河北省地方标准
- 【发布日期】2019-07-04
- 【CCS分类】G13氧化物、单质
- 【ICS分类】59.100.20碳纤维材料
T/CSTM 00252-2020
碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2020-07-24
- 【CCS分类】Q建材
- 【ICS分类】59.100.20碳纤维材料
T/CASAS 019-2021
微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-11-01
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C 0256-2002(2022)
硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.220.01电学、磁学综合
KS C 0256-2002(2017)
具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-29
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.220.01电学、磁学综合
KS C IEC TS 62607-6-1-2022
纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2022-11-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体材料
IEC TS 62607-6-1:2020
纳米制造关键控制特性第6-1部分:石墨烯基材料体积电阻率:四探针法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2020-07-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体材料
KS D 0260-1989(1994)
具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】1989-12-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
ASTM F84-02
使用直列四点探针测量硅晶片的电阻率的标准测试方法（2003年退款）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045
