硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
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高新技术企业
GB/T 1558-2009
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 1558-1997
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-12-22
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1557-2018
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 1557-1989
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
ASTM F1391-93(2000)
通过红外吸收代替硅原子碳含量的标准测试方法（2003年撤回）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2000-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F123-91
红外吸收法测定硅中取代原子碳含量的试验方法（1992年撤销）
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.045半导体材料
