半导体器件-第5-6部分:光电子器件-发光二极管
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-17 12:51:05 点击数:
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半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-09-07
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【CCS分类】L53半导体发光器件
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件 - 第5-6部分:光电子器件 - 发光二极管
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2021-07-06
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【CCS分类】半导体发光器件
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2021-07-06
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【CCS分类】半导体光敏器件
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2024-03-15
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【CCS分类】L53半导体光敏器件
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【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1990-12-06
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【CCS分类】L54激光器件
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【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
文件草案-半导体器件-分立器件-第5-6部分:光电子器件-发光二极管(IEC 47E/418/CD:2011)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2011-12-01
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【CCS分类】红外器件
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【ICS分类】其他半导体分立器件
半导体器件 - 第5-6部分:光电子器件 - 发光二极管
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2016-02-23
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99光电子学、激光设备
半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2003-01-24
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【CCS分类】L54
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【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
半导体器件 第12-2部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2002-12-04
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【CCS分类】L51
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【ICS分类】31.260其他半导体分立器件
半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2019-11-13
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件 第5-9部分: 光电子器件 发光二极管 基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件 第5-10部分:光电子器件 发光二极管 基于室温参考的内部量子效率的测试方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99光电子学、激光设备
半导体器件 第12-1部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2002-12-04
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【CCS分类】L52
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【ICS分类】31.260其他半导体分立器件
半导体器件第5-12部分:光电子器件发光二极管LED效率的试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2021-10-13
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件第5-11部分:光电子器件发光二极管发光二极管辐射电流和非辐射电流的试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2019-12-11
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件.第5-16部分:光电子器件.发光二极管.基于光电流光谱的GaN基发光二极管的平带电压的试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2023-03-28
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件第5-14部分:光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2022-03-04
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
半导体器件第5-9部分:光电子器件发光二极管基于温度依赖性电致发光的内部量子效率试验方法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2019-12-11
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.99
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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