X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度-仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-17 16:38:18 点击数：
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GB/T 36053-2018
X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 16413:2020
通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2020-08-14
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】35.240.70信息技术在自然科学中的应用
KS D ISO 16413-2021
用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2021-07-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】信息技术在自然科学中的应用
BS ISO 16413:2020
通过X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-08-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 16413:2013
用X射线反射法评价薄膜的厚度、密度和界面宽度——仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2013-02-12
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】35.240.70
BS ISO 16413:2013
通过X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2013-03-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS 12/30235353 DC
BS ISO 16413 通过X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2012-01-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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