半导体集成电路-第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3-SDRAM)测试方法
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
旗下实验室资质
我司旗下实验室具备CMA资质认定及CNAS认可，具体项目是否在资质认定/实验室认可范围内请与工程师确认。
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
