半导体集成电路-第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3-SDRAM)测试方法
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高新技术企业
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
