半导体集成电路-快闪存储器测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-18 12:13:30 点击数：
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GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42974-2023
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20242556-T-339
半导体集成电路 嵌入式存储器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-08-23
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
SJ/T 10739-1996
半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ/T 10740-1996
半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ/T 10801-1996
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 17574.10-2003
半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 6648-1986
半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范（可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1986-07-31
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20242554-T-339
半导体集成电路 嵌入式存储器接口要求
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-08-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14119-1993
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范（可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
20233686-T-339
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第八篇：集成电路静态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
SJ 50597/38-1995
半导体集成电路 ＪＭ２１４８Ｈ型ＮＭＯＳ１０２４×４位静态随机存取存储器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-06-14
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20061262-T-339
半导体器件 集成电路 第2-8部分：数字集成电路 集成电路静态读/写存储器 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2005-12-30
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-8-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第8节:集成电路静态读/写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
KS C IEC 60748-2-8-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第8节:集成电路静态读写存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
KS C IEC 60748-2-10-2001(2021)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第10节集成电路动态读写存储器空白详细规范（不包括未提交逻辑阵列）
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
KS C IEC 60748-2-7-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第7节:集成电路熔断可编程双极只读存储器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.01
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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