发光二极管芯片点测方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-18 19:34:58 点击数：
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GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
DB35/T 1370-2013
发光二极管芯片点测方法
- 【发布单位或类别】 CN-DB35福建省地方标准
- 【发布日期】2013-12-04
- 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 36356-2018
功率半导体发光二极管芯片技术规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
GB/T 36357-2018
中功率半导体发光二极管芯片技术规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-06-07
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
DB35/T 1193-2011
半导体发光二极管芯片
- 【发布单位或类别】 CN-DB35福建省地方标准
- 【发布日期】2011-10-28
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.260光电子学、激光设备
SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2009-11-17
- 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
- 【ICS分类】31.080半导体分立器件
SJ/T 11868-2022
硅衬底蓝光功率发光二极管芯片详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2022-10-20
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】半导体分立器件
SJ/T 11869-2022
硅衬底白光功率发光二极管芯片详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2022-10-20
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】二极管
SJ/T 11398-2009
功率半导体发光二极管芯片技术规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2009-11-17
- 【CCS分类】L45微波、毫米波二、三极管
- 【ICS分类】31.080
JEDEC JESD51-50
单芯片和多芯片、单结和多结发光二极管（LED）热测量方法综述
- 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
- 【发布日期】2012-04-18
- 【CCS分类】半导体发光器件
- 【ICS分类】
SJ/T 11818.2-2022
半导体紫外发射二极管 第2部分：芯片规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2022-10-20
- 【CCS分类】L53基础标准和通用方法
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/731C
半导体器件、二极管、硅、肖特基、双中心抽头、1N7058CCU3型和单芯片、1N7038U3型、JAN、JANTX、JANTXV和JANS
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2020-08-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/731A Notice 1-Validation
二极管 硅 肖特基 双 中心抽头 1N7058CCU3、1N7058CCU3C型 以及单芯片 1N7038U3、JAN、JANTX、JANTSV和JANS型
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2015-03-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/516H
半导体器件 二极管硅 双极瞬态电压抑制器 封装（轴向引线通孔和表面安装封装）和非封装（芯片） 1N6102至1N6173型 JAN JANTX JANTXV JANS JANHC和JANKC
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2018-02-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/550D
半导体器件、二极管、硅、快恢复、大电流、封装（螺柱和表面安装封装）和非封装（芯片） 1N6304、1N6305、1N6306和R型 JAN、JANTX、JANTXV、JANS、JANHC和JANKC
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2015-12-18
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
\u0413\u041e\u0421\u0422 18986.13-74
半导体隧道二极管 测量峰值电流 谷点电流 峰值电压 谷值点电压 投影峰值电压的方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】K04
- 【ICS分类】31.080.10
MIL MIL-PRF-19500/463L
半导体器件、二极管、硅、电流调节器、封装（通孔和表面安装封装）和非封装（芯片） 1N5283至1N5314型 以及1N7048至1N7055、JAN、JANTX、JANTXV、JANS、JANHC和JANKC型
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2016-02-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/731
半导体器件、二极管、硅、肖特基、双中心抽头、1N7058CCU3型和单芯片、1N7038U3型、JAN、JANTX、JANTXV和JANS
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2007-03-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/435R
半导体器件 二极管 硅 低噪声电压调节器 封装（轴向引线通孔和表面安装封装）和非封装（芯片） 1N4099至1N4135 1N4614至1N4627型 C和D公差后缀器件 JAN JANTX JANTXV JANS JANHC和JANKC
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2020-11-23
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
MIL MIL-PRF-19500/516G
半导体器件 二极管硅 双极瞬态电压抑制器 封装（轴向引线通孔和表面安装封装）和非封装（芯片） 1N6102至1N6173型 JAN JANTX JANTXV JANS JANHC和JANKC
- 【发布单位或类别】 US-MIL美国军事规范和标准
- 【发布日期】2016-03-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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