高纯碳化硅-微量元素的测定
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 37254-2018
高纯碳化硅 微量元素的测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】A43化学
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
T/SCS 000012-2021
碳化硼-碳化硅芯块 微量元素的测定 电感 耦合等离子体发射光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2021-06-14
- 【CCS分类】CCS半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
YS/T 1600-2023
碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
- 【发布单位或类别】 CN-YS行业标准-有色金属
- 【发布日期】2023-04-21
- 【CCS分类】H17
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
T/CASAS 032-2023
碳化硅晶片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2023-06-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN 51088
陶瓷原材料和基础材料的试验.用光发射光谱法和直流电弧激发法测定碳化硅粉末和粒状碳化硅中金属微量杂质的质量分数
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2007-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
