介电晶体介电性能的试验方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-20 20:21:47 点击数：
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GB/T 16822-1997
介电晶体介电性能的试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-05-28
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.020电子元器件综合
KS C 2137-1996(2001)
在高频区域中的试验方法的绝缘材料的介电性能
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】1996-12-30
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】土工布
ASTM D5493-23
负载条件下土工织物介电系数的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2023-05-01
- 【CCS分类】石英晶体、压电元件
- 【ICS分类】59.080.70频率控制和选择用压电器件与介质器件
20214733-T-339
压电、介电和静电振荡器的测量技术 第3部分：频率老化的试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140其他半导体分立器件
20231775-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第 36 部分：MEMS 压电薄膜的环境及介电耐受试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99频率控制和选择用压电器件与介质器件
20214731-T-339
压电、介电和静电振荡器的测量技术 第4部分：短期频率稳定度试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】L21
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
KS C IEC 62884-4-2022
压电、介电和静电振荡器的测量技术.第4部分:短期频率稳定性试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2022-07-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 62047-36:2019
半导体器件微机电器件第36部分:MEMS压电薄膜的环境和介电耐受试验方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-04-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140频率控制和选择用压电器件与介质器件
IEC 62884-4:2019
压电、介电和静电振荡器的测量技术第4部分:短期频率稳定性试验方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-05-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.140开关
ASTM F1662-10
检验薄膜开关的规定介电耐受电压和确定介电击穿电压的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2010-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.40非金属矿
ASTM D1082-17
云母介电损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】73.080开关
AS 1767.2.2-2008
绝缘液体 方法2.2:试验方法-相对介电常数、介电损耗因子（tan d）和直流电阻率的测量
- 【发布单位或类别】 AU-AS澳大利亚标准
- 【发布日期】2008-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】开关
ASTM F1662-04
检验薄膜开关的规定介电耐受电压和确定介电击穿电压的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2004-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.40非金属矿
ASTM F1662-03
检验薄膜开关的规定介电耐受电压和确定介电击穿电压的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2003-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.40非金属矿
ASTM D1082-00(2011)
云母介电损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2011-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】73.080非金属矿
DIN EN 62884-3-DRAFT
文件草稿.压电、介电和静电振荡器的测量技术.第3部分:频率老化试验方法（IEC 49/1181/CD）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2016-08-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】开关
EIA 186-4
无源电子元件的标准试验方法.方法4:介电试验（耐受电压）
- 【发布单位或类别】 US-EIA电子工业联合会
- 【发布日期】1978-10-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ASTM D1082-00
云母介电损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2000-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】73.080
ASTM D1082-00(2005)
云母介电损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2000-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】73.080
ASTM F1662-95(2002)
验证构件开关规定介电耐受电压的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1995-11-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.120.40
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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