产品几何技术规范(GPS)-坐标测量机的验收检测和复检检测-第2部分：用于测量线性尺寸的坐标测量机
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高新技术企业
GB/T 16857.2-2017
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第2部分: 用于测量线性尺寸的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.901-2020
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-03-31
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.12-2022
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第12部分：关节臂式坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】J42量具与量仪
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.3-2009
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第3部分：配置转台的轴线为第四轴的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-11-15
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.9-2022
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第9部分：配备多种探测系统的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】J42量具与量仪
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.7-2022
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第7部分：配置影像探测系统的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】J42量具与量仪
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.4-2003
产品几何量技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第4部分: 在扫描模式下使用的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-03-06
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.10极限和配合
GB/T 16857.5-2017
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分：使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.8-2022
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第8部分：使用光学距离传感器的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】J42量具与量仪
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.1-2002
产品几何量技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第1部分:词汇
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2002-07-15
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.10极限和配合
GB/T 16857.2-2006
产品几何技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第2部分：用于测量尺寸的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-19
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.6-2006
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量机的验收检测和复检检测 第6部分:计算高斯拟合要素的误差的评定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-19
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.10极限和配合
GB/T 34874.3-2017
产品几何技术规范（GPS） X射线三维尺寸测量机 第3部分：验收检测和复检检测
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2017-11-01
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.5-2004
产品几何量技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分：使用多探针探测系统的坐标测量机
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2004-11-11
- 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
GB/T 16857.10-2022
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第10部分：激光跟踪仪
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】J42量具与量仪
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
ASME B89.4.10360.2-2008
坐标测量机的验收试验和再鉴定试验第2部分:用于测量线性尺寸的坐标测量机（技术报告）
- 【发布单位或类别】 US-ASME美国机械工程师协会
- 【发布日期】2008-07-11
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】测量仪器仪表
GB/T 34874.6-2020
产品几何技术规范（GPS） X射线三维尺寸测量机 第6部分：工件的检测方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-04-28
- 【CCS分类】J04
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
KS B ISO 10360-2-2020
坐标测量机（CMM）的几何产品规格（GPS）验收和再验证测试第2部分用于测量线性尺寸的CMM
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.040.30测量仪器仪表
ISO 10360-2:2009
几何产品规范（GPS）——坐标测量机（CMM）的验收和再鉴定试验第2部分:用于测量线性尺寸的CMM
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2009-11-27
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】17.040.30
JIS B 7440-2:2013
产品几何量技术规范（GPS）坐标测量机（CMM）的验收和再验证试验第2部分:用于测量线性尺寸的CMM
- 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
- 【发布日期】2013-01-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
