金属覆盖层-厚度测量-X射线光谱方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-21 09:26:22 点击数：
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GB/T 16921-1997
金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-07-25
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 16921-2005
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-10-12
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.20表面处理
JB/T 5068-1991
金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1991-06-11
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220表面处理和镀涂
QB/T 1135-2006
首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-QB行业标准-轻工
- 【发布日期】2006-08-19
- 【CCS分类】Y88工艺美术品
- 【ICS分类】39.060珠宝
GB/T 20018-2005
金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量 β射线背散射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-10-12
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.20表面处理
GB/T 6463-2005
金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-06-23
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.20表面处理
QB/T 1135-1991
首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法
- 【发布单位或类别】 CN-QB行业标准-轻工
- 【发布日期】1991-06-04
- 【CCS分类】Y88工艺美术品
- 【ICS分类】39.060珠宝
KS D ISO 3497-2002(2017)
金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-07-06
- 【CCS分类】材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 11378-1989
金属覆盖层厚度 轮廓尺寸测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-06-29
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 6463-1986
金属和其他无机覆盖层 厚度测量方法评述
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1986-06-11
- 【CCS分类】A29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
EN ISO 3497:2000
金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱测量方法（ISO 3497:2000）
- 【发布单位或类别】 IX-CEN欧洲标准化委员会
- 【发布日期】2000-12-15
- 【CCS分类】H20/29材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 4956-1985
磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-02-14
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 4957-1985
非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1985-02-14
- 【CCS分类】A29材料防护
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
GB/T 6462-1986
金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1986-06-11
- 【CCS分类】A29
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
KS D ISO 3497-2002(2022)
金属镀层镀层厚度的测量X射线光谱法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-07-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
BS EN ISO 3497:2001
金属涂层 涂层厚度的测量 X射线光谱测定法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2001-03-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】金属镀层
ISO 3497:2000
金属涂层——涂层厚度的测量——X射线光谱测定法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2000-12-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】25.220.40金属镀层
UNE-EN ISO 3497:2001
金属涂层 涂层厚度的测量 X射线光谱测定法 （ISO 3497:2000）
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2001-09-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN ISO 3497
金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法（ISO 3497-2000）；德文版EN ISO 3497:2000
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2001-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 3497:1990
金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】1990-11-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】25.220.40
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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