柔性显示器件-第6-1部分：机械应力试验方法
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-21 18:08:42 点击数：
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GB/T 38001.61-2019
柔性显示器件 第6-1部分：机械应力试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-08-30
- 【CCS分类】L47其他
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 62715-6-1-2017
柔性显示器件 第6-1部分:机械应力试验方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】L47其他
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
GB/T 38001.62-2020
柔性显示器件 第6-2部分：环境试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-04-28
- 【CCS分类】L47其他
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
20241827-T-339
柔性显示器件 第6-1部分：机械试验方法 形变试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-05-31
- 【CCS分类】半导体发光器件
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
GB/T 18910.101-2021
液晶显示器件 第10-1部分：环境、耐久性和机械试验方法 机械
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-10-11
- 【CCS分类】L53半导体发光器件
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
20210828-T-339
柔性显示器件 第6-3部分：机械试验方法——撞击和硬度试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-04-30
- 【CCS分类】L53其他
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
DIN EN 62715-6-1-DRAFT
文件草案.柔性显示设备.第6-1部分:机械应力试验方法（IEC 110/361/CD:2012）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2012-07-01
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】电子显示器件
KS C IEC 62715-6-1-2023
柔性显示设备.第6-1部分:机械试验方法.变形试验
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2023-06-30
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
IEC 62715-6-1:2018 RLV
柔性显示设备第6-1部分:机械试验方法变形试验
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2018-04-20
- 【CCS分类】标准化、质量管理
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
20241800-T-339
移动显示器件用玻璃盖板 第6部分：机械试验方法 保留双轴弯曲强度（磨损环对环）
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2024-05-31
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.120电子显示器件
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 62715-6-2-2021
柔性显示器件 第6-2部分:环境试验方法
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】L47基础标准与通用方法
- 【ICS分类】31.120半导体器分立件综合
BS 12/30240698 DC
英国标准EN 62715-6-1 灵活的显示设备 第6-1部分 机械应力试验方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2012-03-12
- 【CCS分类】半导体分立器件综合
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
DIN EN 61747-10-1
液晶显示器件.第10-1部分:环境、耐久性和机械试验方法.机械（IEC 61747-10-1-2013）；德文版EN 61747-10-1:2013
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2014-06-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】半导体器分立件综合
SJ/T 11874-2022
电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2022-10-20
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】半导体分立器件
20213175-T-339
半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-08-24
- 【CCS分类】L55
- 【ICS分类】31.080.01
20213172-T-339
半导体器件 金属化空洞应力试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-08-24
- 【CCS分类】L00
- 【ICS分类】31.080.01
20141817-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2014-12-23
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080.01
SJ/Z 9016-1987
半导体器件 机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1987-09-14
- 【CCS分类】L04
- 【ICS分类】
GB/T 4937-1995
半导体器件机械和气候试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-12-22
- 【CCS分类】L40
- 【ICS分类】31.080
BS EN 62418:2010
半导体器件 金属化应力空洞试验
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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