硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 17169-1997
硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1997-12-22
- 【CCS分类】H24金相检验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IAWBS 012-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H83化合物半导体材料
- 【ICS分类】29.045半导体材料
