硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法

原创来源:北检院    发布时间:2024-12-21 23:57:36    点击数:

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GB/T 17169-1997

硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1997-12-22
  • 【CCS分类】H24金相检验方法
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

T/IAWBS 012-2019

碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法

  • 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
  • 【发布日期】2019-12-27
  • 【CCS分类】H83化合物半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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