宇航用半导体集成电路通用设计要求
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-22 12:07:46 点击数：
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GB/T 38345-2019
宇航用半导体集成电路通用设计要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-12-31
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006-2008
宇航用半导体集成电路通用规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】电子元器件
- 【ICS分类】航天系统和操作装置
GB/T 43226-2023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.140航空航天制造用零部件
QJ 10006/4-2008
宇航用半导体集成电路 四D触发器(C40175)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/1-2008
宇航用半导体集成电路 四低-高电平接口(C40109)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/3-2008
宇航用半导体集成电路 六上升沿D触发器(C40174)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/6-2008
宇航用半导体集成电路 四2选1数据选择器(C4019)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/5-2008
宇航用半导体集成电路 有预置端N分频计数器(C4018)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/2-2008
宇航用半导体集成电路 十进制计数器/分配器(C4017)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/9-2008
宇航用半导体集成电路 14位二进制串行计数器(C4020)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/7-2008
宇航用半导体集成电路 四位十进制同步加/减计数器(C40192)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
QJ 10006/8-2008
宇航用半导体集成电路 四位二进制同步加/减计数器(C40193)详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】2008-02-16
- 【CCS分类】V25电子元器件
- 【ICS分类】49.035航天系统和操作装置
GB/T 43228-2023
宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】V25电气系统与设备
- 【ICS分类】49.140航空器和航天器综合
BS ISO 18257:2016
太空系统 空间应用半导体集成电路 设计要求
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2016-11-30
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】航天系统和操作装置
GB/T 37312.1-2019
航空电子过程管理 航空航天、国防及其他高性能应用领域(ADHP)电子元器件 第1部分：高可靠集成电路与分立半导体器件通用要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-03-25
- 【CCS分类】V40微电路
- 【ICS分类】49.020集成电路、微电子学
ISO 18257:2016
空间系统 - 空间应用的半导体集成电路 - 设计要求
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2016-11-17
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】49.140集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2003-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-20-1:1994
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1994-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
SJ/T 10935-1996
电子元器件详细规范 半导体集成电路ＣＦ７４７型通用双运算放大器（可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】
SJ/T 10607-1994
半导体集成电路门阵列设计总则
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1994-10-11
- 【CCS分类】L55/59
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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