半导体器件-分立器件和集成电路-第1部分：总则
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-23 09:39:03 点击数：
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GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60747-5-1-2020
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-12-24
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L55半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L40电力半导体器件、部件
- 【ICS分类】31.080.01二极管
GB/T 4023-2015
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-31
- 【CCS分类】K46半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.10集成电路、微电子学
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 20515-2006
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L56光电子器件综合
- 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-07-24
- 【CCS分类】L50半导体集成电路
- 【ICS分类】31.260集成电路、微电子学
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
GB/T 20870.4-2024
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.01集成电路、微电子学
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57微电路综合
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-11-17
- 【CCS分类】L55光电子器件综合
- 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50半导体集成电路
- 【ICS分类】31.260集成电路、微电子学
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
GB/T 20870.1-2007
半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-02-09
- 【CCS分类】L40光电子器件综合
- 【ICS分类】31.080.01光电子学、激光设备
GB/T 15651.2-2003/IEC 60747-5-2:1997
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50光电子器件综合
- 【ICS分类】光电子学、激光设备
GB/T 15651.2-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L50
- 【ICS分类】31.260
IEC 60747-5-1:1997
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-09-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.260
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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