半导体器件-分立器件和集成电路-第1部分:总则

2024-12-23 09:39:03 阅读 检测标准
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高新技术企业

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GB/T 17573-1998

半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1998-11-17
  • 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合

KS C IEC 60747-5-1-2020

分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2020-12-24
  • 【CCS分类】微电路综合
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

GB/T 16464-1996

半导体器件 集成电路 第1部分:总则

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1996-07-09
  • 【CCS分类】L55半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合

GB/T 4589.1-2006

半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-10-10
  • 【CCS分类】L40电力半导体器件、部件
  • 【ICS分类】31.080.01二极管

GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2015-12-31
  • 【CCS分类】K46半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.080.10集成电路、微电子学

GB/T 12750-2006

半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-08-23
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 20515-2006

半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-10-10
  • 【CCS分类】L56光电子器件综合
  • 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备

GB/T 15651-1995

半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1995-07-24
  • 【CCS分类】L50半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.260集成电路、微电子学

GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2000-01-03
  • 【CCS分类】L56膜集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 11498-2018

半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-12-28
  • 【CCS分类】L57半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合

GB/T 20870.4-2024

半导体器件 第16-4部分:微波集成电路 开关

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-10-26
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.080.01集成电路、微电子学

GB/T 19403.1-2003

半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-11-24
  • 【CCS分类】L56膜集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 13062-2018

半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2018-12-28
  • 【CCS分类】L57微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1998-11-17
  • 【CCS分类】L55光电子器件综合
  • 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-11-24
  • 【CCS分类】L50半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.260集成电路、微电子学

GB/T 17574.20-2006

半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2006-12-05
  • 【CCS分类】L56半导体分立器件综合
  • 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合

GB/T 20870.1-2007

半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2007-02-09
  • 【CCS分类】L40光电子器件综合
  • 【ICS分类】31.080.01光电子学、激光设备

GB/T 15651.2-2003/IEC 60747-5-2:1997

半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-11-24
  • 【CCS分类】L50光电子器件综合
  • 【ICS分类】光电子学、激光设备

GB/T 15651.2-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-11-24
  • 【CCS分类】L50
  • 【ICS分类】31.260

IEC 60747-5-1:1997

分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】1997-09-05
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.260