半导体器件-集成电路-第2-10部分:数字集成电路集成电路动态-读/写存储器空白详细规范
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-23 09:44:12 点击数:
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半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2003-11-24
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 - 集成电路 - 第2部分:数字集成电路 - 第10节:集成电路动态读/写存储器的空白详细规范
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】1994-12-21
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【CCS分类】半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2006-12-05
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2006-12-05
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2000-01-03
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-11-17
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【CCS分类】L56微电路综合
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1997-10-07
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【CCS分类】L55半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第八篇:集成电路静态读/写存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-28
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【CCS分类】半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
半导体器件 集成电路 第2-8部分:数字集成电路 集成电路静态读/写存储器 空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2005-12-30
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【CCS分类】L56
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-8-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第8节:集成电路静态读/写存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第六篇:微处理器空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-28
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-3-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第3节:HCMOS数字集成电路空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-8-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第8节:集成电路静态读写存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
半导体器件 集成电路 第2-6部分:数字集成电路微处理器空白详细规范
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2005-12-30
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【CCS分类】L56
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-10-2001(2021)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第10节集成电路动态读写存储器空白详细规范(不包括未提交逻辑阵列)
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2001-12-11
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-6-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第6节:微处理器集成电路空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-10-2001(2016)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第10节集成电路动态读写存储器空白详细规范(不包括非提交逻辑阵列)
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2001-12-11
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-7-2002(2022)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第7节:集成电路熔断可编程双极只读存储器空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-12-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第12节:数字集成电路可编程逻辑器件空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
KS C IEC 60748-2-6-2002(2017)
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第6节:微处理器集成电路空白详细规范
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【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
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【发布日期】2002-11-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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