掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-24 10:39:08 点击数：
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GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1999-09-13
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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