微束分析-电子背散射衍射-平均晶粒尺寸的测定
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-26 12:03:37 点击数:
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微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2020-03-06
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【CCS分类】G04基础标准与通用方法
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【ICS分类】71.040.40化学分析
微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2020-07-15
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【CCS分类】反应堆、核电厂安全配电设备
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2022-04-12
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【CCS分类】电化学、热化学、光学式分析仪器
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2022-05-11
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【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
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【ICS分类】物理化学分析方法
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u0418\u0421\u041e 13067-2016
确保测量一致性的状态系统 微束分析电子反向散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
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【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
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【发布日期】
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【CCS分类】F83基础标准与通用方法
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
微束分析 电子背散射衍射 平均粒度的测量
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2020-07-17
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【CCS分类】基础标准与通用方法
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【ICS分类】物理化学分析方法
微束分析.电子背散射衍射.平均粒度的测量(ISO 13067-2020)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2021-08-01
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【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
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【ICS分类】物理化学分析方法
用电子背散射衍射(EBSD)测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2019-11-01
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【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
微束分析——电子背散射衍射——平均粒度的测量
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2011-10-28
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【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
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【ICS分类】71.040.50有关分析化学的其他标准
BS ISO 13067 微束分析 电子背散射衍射 平均粒度的测量
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2010-07-08
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【CCS分类】
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【ICS分类】有关分析化学的其他标准
用电子背散射衍射(EBSD)测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2013-11-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
用电子背散射衍射(EBSD)测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2010-04-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2021-12-31
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【CCS分类】N53
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【ICS分类】71.040.99物理化学分析方法
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2024-04-25
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【CCS分类】N33
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【ICS分类】71.040.99光学测量仪器
微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2014-03-27
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【CCS分类】G04
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【ICS分类】71.040.50化学分析
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-09-07
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【CCS分类】G04
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【ICS分类】71.040.50化学分析
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-12-28
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【CCS分类】N33
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【ICS分类】71.040.50
微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-08-20
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【CCS分类】N33
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【ICS分类】17.180.30
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2024-03-15
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【CCS分类】N33
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【ICS分类】71.040.40
微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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