微束分析-电子背散射衍射-平均晶粒尺寸的测定
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 38532-2020
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2020-03-06
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 13067:2020
微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2020-07-15
- 【CCS分类】反应堆、核电厂安全配电设备
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 23749:2022
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-04-12
- 【CCS分类】电化学、热化学、光学式分析仪器
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
BS ISO 23749:2022
微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2022-05-11
- 【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】物理化学分析方法
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u0418\u0421\u041e 13067-2016
确保测量一致性的状态系统 微束分析电子反向散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】F83基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
BS ISO 13067:2020
微束分析 电子背散射衍射 平均粒度的测量
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2020-07-17
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】物理化学分析方法
DIN ISO 13067
微束分析.电子背散射衍射.平均粒度的测量（ISO 13067-2020）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2021-08-01
- 【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】物理化学分析方法
ASTM E2627-13(2019)
用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2019-11-01
- 【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ISO 13067:2011
微束分析——电子背散射衍射——平均粒度的测量
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2011-10-28
- 【CCS分类】电子光学与其他物理光学仪器
- 【ICS分类】71.040.50有关分析化学的其他标准
BS 10/30195133 DC
BS ISO 13067 微束分析 电子背散射衍射 平均粒度的测量
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-07-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】有关分析化学的其他标准
ASTM E2627-13
用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2013-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ASTM E2627-10
用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2010-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
GB/T 20724-2021
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】N53
- 【ICS分类】71.040.99物理化学分析方法
GB/T 43883-2024
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-04-25
- 【CCS分类】N33
- 【ICS分类】71.040.99光学测量仪器
GB/T 30705-2014
微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2014-03-27
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.50化学分析
GB/T 43088-2023
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.50化学分析
GB/T 43610-2023
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】N33
- 【ICS分类】71.040.50
GB/T 15247-2008
微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-08-20
- 【CCS分类】N33
- 【ICS分类】17.180.30
GB/T 43748-2024
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】N33
- 【ICS分类】71.040.40
20231337-T-469
微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
