微电子技术用贵金属浆料测试方法-分辨率测定
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-26 15:08:17 点击数:
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微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分:可焊性、耐焊性测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2022-03-09
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【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
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【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H22金属力学性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2008-03-31
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【CCS分类】H68贵金属及其合金
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【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H15贵金属及其合金分析方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H22金属力学性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】1998-08-19
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【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
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【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2016-05-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2008-06-15
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2002-12-10
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】1997-06-10
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【CCS分类】
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【ICS分类】导体材料
电子级铝 - 铜 铝 - 硅和铝 - 铜 - 硅合金中痕量金属杂质的高质量分辨率辉光放电质谱仪的标准测试方法
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【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
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【发布日期】2016-05-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】29.050
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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