微电子技术用贵金属浆料测试方法-分辨率测定
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CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 17473.6-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.6-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.5-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.1-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.3-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.2-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.4-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.7-2022
微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分:可焊性、耐焊性测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-03-09
- 【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.99金属材料的其他试验方法
GB/T 17473.5-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H22金属力学性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.7-2008
微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2008-03-31
- 【CCS分类】H68贵金属及其合金
- 【ICS分类】77.120.99其他有色金属及其合金
GB/T 17473.1-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H15贵金属及其合金分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.2-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.4-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H22金属力学性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 17473.7-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1998-08-19
- 【CCS分类】H23金属工艺性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
ASTM F1710-08(2016)
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2016-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ASTM F1710-08
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2008-06-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ASTM F1710-97(2002)
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2002-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.50物理化学分析方法
ASTM F1710-97
通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1997-06-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】导体材料
ASTM F1845-08(2016)
电子级铝 - 铜 铝 - 硅和铝 - 铜 - 硅合金中痕量金属杂质的高质量分辨率辉光放电质谱仪的标准测试方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】2016-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】29.050