表面化学分析-二次离子质谱-飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

原创来源:北检院    发布时间:2024-12-26 22:53:46    点击数:

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GB/T 40129-2021

表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-05-21
  • 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS ISO 13084:2018

表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2018-11-16
  • 【CCS分类】基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】化学分析

ISO 13084:2018

表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2018-11-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS 10/30199193 DC

BS ISO 13084 表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2010-04-22
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】化学分析

20232366-T-469

表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】G04
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS ISO 13084:2011

表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2011-05-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】化学分析

ISO 17862:2022

表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2022-09-23
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

ISO 13084:2011

表面化学分析——二次离子质谱法——飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的标定

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2011-05-05
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

ISO/TS 22933:2022

表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2022-04-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

ISO 17862:2013

表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2013-12-10
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40

BS ISO 17862:2013

表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2013-12-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

KS D ISO 17560-2003(2018)

表面化学分析-二次离子质量分析-硅内硼深度分布测量方法

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2003-10-06
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40

ISO 23812:2009

表面化学分析——二次离子质谱法——使用多δ层标准物质的硅深度校准方法

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2009-04-08
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40

BS ISO 23812:2009

表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2009-05-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS 08/30138809 DC

BS ISO 23812 表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2008-02-19
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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