表面化学分析-二次离子质谱-飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
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CNAS认可证书
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高新技术企业
GB/T 40129-2021
表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-05-21
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 13084:2018
表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2018-11-16
- 【CCS分类】基础标准与通用方法
- 【ICS分类】化学分析
ISO 13084:2018
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2018-11-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS 10/30199193 DC
BS ISO 13084 表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2010-04-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
20232366-T-469
表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】G04
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 13084:2011
表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2011-05-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO 17862:2022
表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-09-23
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 13084:2011
表面化学分析——二次离子质谱法——飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的标定
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2011-05-05
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO/TS 22933:2022
表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 17862:2013
表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2013-12-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
BS ISO 17862:2013
表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS D ISO 17560-2003(2018)
表面化学分析-二次离子质量分析-硅内硼深度分布测量方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2003-10-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
ISO 23812:2009
表面化学分析——二次离子质谱法——使用多δ层标准物质的硅深度校准方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2009-04-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
BS ISO 23812:2009
表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2009-05-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS 08/30138809 DC
BS ISO 23812 表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2008-02-19
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
