产品几何量技术规范(GPS)-表面结构-轮廓法-相位修正滤波器的计量特性

2024-12-28 11:46:19 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

ISO认证

高新技术企业

高新技术企业

GB/T 18777-2009

产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2009-11-15
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】17.040.20表面特征

GB/T 18777-2002

产品几何量技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2002-07-15
  • 【CCS分类】J04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】17.040.20表面特征

JIS B 0632:2001

产品几何技术规范(GPS)——表面结构:轮廓法——相位校正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 JP-JSA日本工业标准调查会
  • 【发布日期】2001-01-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】表面特征

UNE-EN ISO 11562:1998

几何产品规范(GPS) 表面纹理:轮廓法 相位校正滤波器的计量特性 (ISO 11562-1996)

  • 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
  • 【发布日期】1998-05-27
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】表面特征

KS B ISO 11562-2004(2009)

产品几何技术规范(GPS)-表面结构:轮廓法-相位校正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2004-12-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】17.040.20

DIN EN ISO 11562

产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.相位校正滤波器的计量特性(ISO 11562-1996);德文版EN ISO 11562:1997

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】1998-09-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS EN ISO 11562:1997

几何产品规范(GPS) 表面纹理:轮廓法 相位校正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2009-06-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ISO 11562:1996

产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.相位校正滤波器的计量特性

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】1996-12-05
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】17.040.20