表面化学分析-深度剖析-用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
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GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
ISO 17109:2022
表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2022-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 17109:2015
表面化学分析 深度剖面 X射线光电子能谱中溅射速率的测定方法 使用单层和多层薄膜的俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度剖面
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2015-08-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】化学分析
ISO 17109:2015
表面化学分析 - 深度分析 - X射线光电子能谱法中的溅射速率测定方法 俄歇电子能谱和二次离子质谱法使用单层和多层薄膜的溅射深度分析
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2015-07-28
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 18118:2015
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 均质材料定量分析用实验测定的相对灵敏度系数的使用指南
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2015-04-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS ISO 18118:2004
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 均质材料定量分析用实验测定的相对灵敏度系数的使用指南
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2005-03-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
ISO 18118:2004
表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——均质材料定量分析用实验测定的相对灵敏度系数的使用指南
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2004-05-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】71.040.40
