集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

2024-12-29 05:42:50 21 阅读 检测标准

GB/T 41325-2022

集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2022-03-09
  • 【CCS分类】H82元素半导体材料
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

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