光学元件表面疵病定量检测方法-显微散射暗场成像法

2024-12-30 03:40:04 阅读 检测标准
CMA资质认定

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 41805-2022

光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2022-10-12
  • 【CCS分类】N05仪器、仪表用材料和元件
  • 【ICS分类】81.040.01玻璃综合