封装引线电阻测试方法

原创来源:北检院    发布时间:2024-12-30 04:04:52    点击数:

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GB/T 19248-2003

封装引线电阻测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2003-07-02
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 16526-1996

封装引线间电容和引线负载电容测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1996-09-09
  • 【CCS分类】L55微电路综合
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

DB13/T 5940-2024

在液氮浸泡下电流引线高温超导段临界电流与接头电阻的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-DB13河北省地方标准
  • 【发布日期】2024-02-02
  • 【CCS分类】K13电缆及其附件
  • 【ICS分类】电子技术专用材料

JEDEC JESD51-10

通孔周长引线封装热测量用测试板

  • 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
  • 【发布日期】2000-07-01
  • 【CCS分类】电子技术专用材料
  • 【ICS分类】金属材料试验综合

JEDEC JESD51-11

通孔面积阵列引线封装热测量用测试板

  • 【发布单位或类别】 US-JEDEC(美国)固态技术协会,隶属EIA
  • 【发布日期】2001-06-01
  • 【CCS分类】金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】金属材料试验综合

GB/T 40564-2021

电子封装用环氧塑封料测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-10-11
  • 【CCS分类】L90金属物理性能试验方法
  • 【ICS分类】31.030印制电路和印制电路板

GB/T 6146-2010

精密电阻合金电阻率测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2010-12-01
  • 【CCS分类】H21印制电路
  • 【ICS分类】77.040.01包装材料和辅助物

GB/T 6148-2005

精密电阻合金电阻温度系数测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2005-09-09
  • 【CCS分类】H21包装方法
  • 【ICS分类】77.040.01电子技术专用材料

GB/T 12631-2017

印制板导线电阻测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-05-31
  • 【CCS分类】L30电子技术专用材料
  • 【ICS分类】31.180插头、插座、连接器

GB/T 15717-2021

真空金属镀层厚度测试方法 电阻法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2021-10-11
  • 【CCS分类】A83电工合金零件
  • 【ICS分类】55.040半导体器分立件综合

GB/T 11446.4-2013

电子级水电阻率的测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2013-12-31
  • 【CCS分类】L90微电路综合
  • 【ICS分类】31.030半导体器分立件综合

JB/T 7129-2008

米电阻连续测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2008-02-01
  • 【CCS分类】K14环境保护设备
  • 【ICS分类】29.120.30集成电路、微电子学

KS C IEC 60749-20-2020

半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应

  • 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
  • 【发布日期】2020-11-20
  • 【CCS分类】电阻器
  • 【ICS分类】31.080.01污染、污染控制和保护

IEC 60749-20:2020

半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2020-08-31
  • 【CCS分类】微电路综合
  • 【ICS分类】31.080.01声学和声学测量

SJ 21550-2020

微电子封装陶瓷外壳高速信号传输性能测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2020-06-03
  • 【CCS分类】微电路综合
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

SJ/T 11704-2018

微电子封装的数字信号传输特性测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2018-02-09
  • 【CCS分类】L55
  • 【ICS分类】31.200光电子学、激光设备

JB/T 8537-2023

粉尘比电阻实验室测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
  • 【发布日期】2023-05-22
  • 【CCS分类】J88
  • 【ICS分类】13.020.40

SJ/T 11768-2020

电阻器低频噪声参数测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2020-12-09
  • 【CCS分类】L13
  • 【ICS分类】17.140

SJ/T 11703-2018

数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2018-02-09
  • 【CCS分类】L55
  • 【ICS分类】31.200

SJ/T 11705-2018

微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2018-02-09
  • 【CCS分类】L55
  • 【ICS分类】31.260

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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