半导体器件-集成电路-第11部分：第1篇：半导体集成电路-内部目检(不包括混合电路)
原创来源：北检院 发布时间：2024-12-30 16:25:19 点击数：
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GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-12-28
- 【CCS分类】L57膜集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 5965-2000
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列） 空白详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-11-2020
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2020-07-23
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)
半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-08-13
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u041c\u042d\u041a 748-11-1-2001
半导体器件集成电路 第11部分 第1部分不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
- 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990/AMD2:1999
修改件2.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1999-04-16
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990/AMD1:1995
修改件1.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1995-06-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11-1:1992
半导体器件 - 集成电路 - 第11-1部分:不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1992-04-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-11:1990
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1990-12-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-20-1-2003(2019)
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2003-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-20:1988/AMD1:1995
修改件1——半导体器件 集成电路 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1995-09-22
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-23-1-2004(2019)
半导体器件集成电路第23－1部分:混合集成电路和薄膜结构生产线认证总规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2004-11-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
KS C IEC 60748-2-1-2001(2016)
半导体集成电路第2部分:数字集成电路第1节:双极单片数字集成电路门（不包括非承诺逻辑阵列）空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2001-12-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-21-1:1997
半导体器件集成电路第21-1部分:坯料 薄膜集成电路和混合薄膜详细规范 基于资格认证的集成电路 程序
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-22-1:1997
半导体器件 - 集成电路 - 第22-1部分:基于能力审批程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的空白详细规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1997-04-10
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-23-1:2002
半导体器件 - 集成电路 - 第23-1部分:混合集成电路和薄膜结构 - 制造线认证 - 通用规范
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2002-05-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60748-20-1:1994
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】1994-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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