半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 42271-2022
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2022-12-30
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
T/IAWBS 013-2019
半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
T/IAWBS 011-2019
导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2019-12-27
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
