表面化学分析-扫描探针显微术-采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准

2024-12-31 19:23:17 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 42659-2023

表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-08-06
  • 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

GB/T 43661-2024

表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-03-15
  • 【CCS分类】G04基础标准与通用方法
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS ISO 11952:2019

表面化学分析 扫描探针显微镜 用SPM测定几何量:测量系统的校准

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2019-05-31
  • 【CCS分类】光学仪器
  • 【ICS分类】化学分析

ISO 11952:2019

表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2019-05-21
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

20240159-T-469

表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2024-03-25
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

ISO 11952:2014

表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2014-05-12
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u0418\u0421\u041e 27911-2015

确保测量一致性的状态系统 表面化学分析 扫描探针显微镜 近场光学显微镜的横向分辨率的定义和校准

  • 【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
  • 【发布日期】
  • 【CCS分类】N30/39
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS 11/30199166 DC

BS ISO 11952 表面化学分析 扫描探针显微镜 用SPM测定几何量:测量系统的校准

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2011-10-13
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】化学分析

20232371-T-469

表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2023-12-28
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

ISO 11039:2012

表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2012-01-23
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40化学分析

BS ISO 11039:2012

表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率的测量

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2012-02-29
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ISO 11775:2015

表面化学分析 - 扫描探针显微镜 - 悬臂弹簧常数的测定

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2015-10-15
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40

BS 10/30199182 DC

BS ISO 11039 表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率的测量

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2010-12-03
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS ISO 11775:2015

表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂梁法向弹簧常数的测定

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2015-10-31
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

ISO 21222:2020

表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

  • 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
  • 【发布日期】2020-01-29
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】71.040.40

BS ISO 21222:2020

表面化学分析 扫描探针显微镜 用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2020-02-07
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】