表面化学分析-扫描探针显微术-采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
原创来源:北检院 发布时间:2024-12-31 19:23:17 点击数:
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表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-08-06
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【CCS分类】G04基础标准与通用方法
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜(ESPM,如SSRM和SCM)空间分辨的定义和校准
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2024-03-15
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【CCS分类】G04基础标准与通用方法
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析 扫描探针显微镜 用SPM测定几何量:测量系统的校准
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2019-05-31
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【CCS分类】光学仪器
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【ICS分类】化学分析
表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2019-05-21
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2024-03-25
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2014-05-12
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40化学分析
\u0413\u041e\u0421\u0422 \u0420 \u0418\u0421\u041e 27911-2015
确保测量一致性的状态系统 表面化学分析 扫描探针显微镜 近场光学显微镜的横向分辨率的定义和校准
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【发布单位或类别】 RU-GOST俄罗斯国家标准
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【发布日期】
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【CCS分类】N30/39
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【ICS分类】71.040.40化学分析
BS ISO 11952 表面化学分析 扫描探针显微镜 用SPM测定几何量:测量系统的校准
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2011-10-13
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【CCS分类】
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【ICS分类】化学分析
表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2023-12-28
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2012-01-23
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40化学分析
表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率的测量
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2012-02-29
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【CCS分类】
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【ICS分类】
表面化学分析 - 扫描探针显微镜 - 悬臂弹簧常数的测定
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2015-10-15
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40
BS ISO 11039 表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率的测量
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2010-12-03
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【CCS分类】
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【ICS分类】
表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂梁法向弹簧常数的测定
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2015-10-31
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【CCS分类】
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【ICS分类】
表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
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【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
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【发布日期】2020-01-29
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【CCS分类】
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【ICS分类】71.040.40
表面化学分析 扫描探针显微镜 用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2020-02-07
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【CCS分类】
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【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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