半导体集成电路-片上系统(SoC)
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 03:40:51 点击数：
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GB/T 42835-2023
半导体集成电路 片上系统（SoC）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14027.7-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1992-12-17
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS ISO 18257:2016
太空系统 空间应用半导体集成电路 设计要求
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2016-11-30
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】航天系统和操作装置
ISO 18257:2016
空间系统 - 空间应用的半导体集成电路 - 设计要求
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2016-11-17
- 【CCS分类】微电路综合
- 【ICS分类】49.140集成电路、微电子学
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 7092-2021
半导体集成电路外形尺寸
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2021-03-09
- 【CCS分类】L55半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42837-2023
微波半导体集成电路 放大器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-03-15
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-08-23
- 【CCS分类】L56电子元器件
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200航空航天制造用零部件
GB/T 38345-2019
宇航用半导体集成电路通用设计要求
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2019-12-31
- 【CCS分类】V25基础标准和通用方法
- 【ICS分类】49.035集成电路、微电子学
BS IEC 60747-12-1:1995
分立半导体器件和集成电路 光纤系统和子系统用带/不带引线的发光/红外发光二极管空白详细规范
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1999-03-15
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】电气工程 (词汇)
GB/T 20515-2006
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-10-10
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 2900.66-2004
电工术语 半导体器件和集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2004-05-10
- 【CCS分类】K04微电路综合
- 【ICS分类】01.040.29集成电路、微电子学
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2003-11-24
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2000-01-03
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 14113-1993
半导体集成电路封装术语
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L55
- 【ICS分类】31.200
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-12-05
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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