微波半导体集成电路-放大器
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 03:45:11 点击数：
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GB/T 42837-2023
微波半导体集成电路 放大器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 20870.1-2007
半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2007-02-09
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
20233953-T-339
半导体器件 第16-1部分 : 微波集成电路 放大器
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-28
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 3436-1996
半导体集成电路 运算放大器系列和品种
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1996-07-09
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】33.160.10放大器
IEC 60747-16-1:2001+AMD1:2007+AMD2:2017 CSV
半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-02-15
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 60747-16-1:2001+AMD1:2007 CSV
半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-03-13
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
IEC 60747-16-1:2001
半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2001-11-20
- 【CCS分类】电子元器件
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
IEC 60747-16-1:2001/AMD2:2017
修改件2.半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2017-02-15
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.080.99其他半导体分立器件
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-01-21
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
QJ 2491-1993
半导体集成电路 运算放大器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】1993-03-30
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】其他半导体分立器件
IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007
修改件1.半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2007-01-26
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.080.99集成电路、微电子学
GB/T 9425-1988
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 （可供认证用）
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1988-06-23
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200半导体器分立件综合
KS C IEC 60747-4-2-2002(2022)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
SJ 50597/59-2003
半导体集成电路 JB523型宽带对数放大器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2003-06-04
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C IEC 60747-4-2-2002(2017)
半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-12-31
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
QJ 1460-1988
半导体集成电路宽带放大器测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】1988-04-08
- 【CCS分类】V25
- 【ICS分类】
SJ 50597/63-2006
半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2006-08-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
GB/T 20870.4-2024
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.080.01
SJ 50597/62-2006
半导体集成电路JF1558、JF1558A型通用双运算放大器详细规范
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2006-08-07
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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