碳化硅外延片表面缺陷的测试-激光散射法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 42902-2023
碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-08-06
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
T/IAWBS 002-2017
碳化硅外延片表面缺陷测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2017-12-20
- 【CCS分类】H20/29金属理化性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
