硅片局部平整度非接触式标准测试方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 07:09:07 点击数：
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GB/T 19922-2005
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2005-09-19
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2013-05-09
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
ASTM F1530-94
用自动非接触扫描法测量硅片平整度和厚度变化的标准试验方法
- 【发布单位或类别】 US-ASTM美国材料与试验协会
- 【发布日期】1994-01-01
- 【CCS分类】金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 32278-2015
碳化硅单晶片平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2015-12-10
- 【CCS分类】H21电子技术专用材料
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
SJ/T 10858-1996
玻璃及铬版表面平整度的测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1996-11-20
- 【CCS分类】L90金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】半导体材料
GB/T 6621-1995
硅抛光片表面平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1995-04-18
- 【CCS分类】H21
- 【ICS分类】29.045金属材料试验
20231112-T-469
碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2023-12-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】77.040门窗
ISO 6442:2005
门扇——一般和局部平整度——测量方法
- 【发布单位或类别】 IX-ISO国际标准化组织
- 【发布日期】2005-10-20
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】91.060.50
BS EN 1530:2000
门扇 一般和局部平整度 公差等级
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2000-07-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 952:2000
门扇.一般和局部平整度.测量方法
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2000-03-27
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 1530:2000
门扇.一般和局部平整度.公差等级
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】2000-06-08
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN 952:1999
门扇 一般和局部平整度 测量方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1999-12-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 952
门扇.一般和局部平整度.测量方法；德文版EN 952:1999
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】1999-11-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
BS EN 29885:1994
宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】1994-07-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE-EN 29885:1995
宽口玻璃容器 顶部密封面平整度偏差 测试方法 （ISO 9885:1991）
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】1995-05-24
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
UNE 43009:1953
玻璃平板玻璃 平板安全眼镜的测试 “平整度”测试
- 【发布单位或类别】 ES-UNE西班牙标准
- 【发布日期】1953-02-15
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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