集成电路-电磁抗扰度测量-第1部分：通用条件和定义
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 09:31:38 点击数：
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GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 42968.2-2024
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
DIN EN 62132-1-DRAFT
文件草案-集成电路-电磁抗扰度测量-第1部分:通用条件和定义（IEC 47A/888/CD:2012）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2012-11-01
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
SJ 21147.1-2016
军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2016-01-19
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
20214711-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-12-31
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20221350-T-339
集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2022-12-13
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 62132-1:2015
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分:一般条件和定义
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2015-10-29
- 【CCS分类】半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20214060-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20204839-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2020-12-24
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
20214061-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法
- 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
- 【发布日期】2021-10-13
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC TS 62132-9:2014
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2014-08-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
IEC 62132-8:2012
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分:辐射抗扰度测量 - IC带状线法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2012-07-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
BS 12/30268333 DC
英国标准EN 62132-1 集成电路 电磁抗扰度的测量 一般条件和定义
- 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
- 【发布日期】2012-07-11
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】集成电路、微电子学
GB/T 44806.1-2024
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-10-26
- 【CCS分类】L56
- 【ICS分类】31.200
IEC 62132-2:2010
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分:辐射抗扰度测量 - 温度计和宽带电池法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2010-03-30
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
DIN IEC/TS 62132-9
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法（IEC/TS 62132-9-2014）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2015-08-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN EN 62132-8
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度的测量.集成电路带状线法（IEC 62132-8-2012）；德文版EN 62132-8:2012
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2013-03-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
DIN IEC 62132-8-DRAFT
文件草案——集成电路——电磁抗扰度测量——第8部分:辐射抗扰度测量——IC带状线法（IEC 47A/811/CD:2009）
- 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
- 【发布日期】2009-05-01
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
IEC 62132-4:2006
集成电路 - 电磁抗扰度测量150 Khz至1 Ghz - 第4部分:直接Rf功率注入法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2006-02-21
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】31.200
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
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