集成电路-电磁抗扰度测量-第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法

原创来源:北检院    发布时间:2025-01-01 09:34:30    点击数:

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GB/T 42968.2-2024

集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2024-10-26
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

GB/T 42968.8-2023

集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2023-09-07
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

20214711-T-339

集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2021-12-31
  • 【CCS分类】L56半导体集成电路
  • 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学

SJ 21147.2-2016

军用集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法

  • 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
  • 【发布日期】2016-01-19
  • 【CCS分类】半导体集成电路
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

DIN EN 62132-2

集成电路.电磁抗扰度测量.第2部分:辐射抗扰度测量.TEM室和宽带TEM室法(IEC 62132-2-2010);德文版EN 62132-2:2011

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2011-07-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

DIN IEC 62132-2-DRAFT

文件草稿.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第2部分:辐射抗扰度的测量.Tem室和宽带Tem室法(IEC 47A/748/CD:2006)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2006-08-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

BS 06/30151320 DC

BS IEC 62132-2 集成电路 电磁抗扰度的测量 150kHz至1GHz 第二部分 辐射抗扰度的测量Tem室法和宽带Tem室法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2006-06-09
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】集成电路、微电子学

IEC TS 62132-9:2014

集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2014-08-21
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.200

IEC 62132-2:2010

集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分:辐射抗扰度测量 - 温度计和宽带电池法

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2010-03-30
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.200

IEC 62132-8:2012

集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分:辐射抗扰度测量 - IC带状线法

  • 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
  • 【发布日期】2012-07-06
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】31.200

20213162-T-339

集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法

  • 【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
  • 【发布日期】2021-08-24
  • 【CCS分类】L56
  • 【ICS分类】31.200

DIN IEC/TS 62132-9

集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法(IEC/TS 62132-9-2014)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2015-08-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN IEC 62132-8-DRAFT

文件草案——集成电路——电磁抗扰度测量——第8部分:辐射抗扰度测量——IC带状线法(IEC 47A/811/CD:2009)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2009-05-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN EN 62132-8

集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度的测量.集成电路带状线法(IEC 62132-8-2012);德文版EN 62132-8:2012

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2013-03-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

DIN IEC/TS 62132-9-DRAFT

文件草案——集成电路——电磁抗扰度测量——第9部分:辐射抗扰度测量——表面扫描法(IEC 47A/887/CD:2012)

  • 【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
  • 【发布日期】2012-11-01
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

BS 09/30191126 DC

英国标准EN 62132-8 集成电路 电磁抗扰度的测量 第八部分 辐射抗扰度的测量 集成电路带线法

  • 【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
  • 【发布日期】2009-02-03
  • 【CCS分类】
  • 【ICS分类】

检测流程

1、确认客户委托,寄样。

2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。

3、实验室报价。

4、签订保密协议,进行试验。

5、完成试验,确定检测报告

6、后期技术服务

友情提示:暂不接受个人委托测试

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