集成电路-电磁抗扰度测量-第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
原创来源:北检院 发布时间:2025-01-01 09:34:30 点击数:
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集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2024-10-26
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
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【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
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【发布日期】2023-09-07
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2021-12-31
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【CCS分类】L56半导体集成电路
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【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
军用集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法
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【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
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【发布日期】2016-01-19
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【CCS分类】半导体集成电路
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【ICS分类】集成电路、微电子学
集成电路.电磁抗扰度测量.第2部分:辐射抗扰度测量.TEM室和宽带TEM室法(IEC 62132-2-2010);德文版EN 62132-2:2011
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2011-07-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】集成电路、微电子学
文件草稿.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第2部分:辐射抗扰度的测量.Tem室和宽带Tem室法(IEC 47A/748/CD:2006)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2006-08-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】集成电路、微电子学
BS IEC 62132-2 集成电路 电磁抗扰度的测量 150kHz至1GHz 第二部分 辐射抗扰度的测量Tem室法和宽带Tem室法
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2006-06-09
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【CCS分类】
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【ICS分类】集成电路、微电子学
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2014-08-21
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分:辐射抗扰度测量 - 温度计和宽带电池法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2010-03-30
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200
集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分:辐射抗扰度测量 - IC带状线法
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【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
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【发布日期】2012-07-06
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【CCS分类】
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【ICS分类】31.200
集成电路 电磁发射测量 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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【发布单位或类别】 CN-PLAN国家标准计划
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【发布日期】2021-08-24
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【CCS分类】L56
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【ICS分类】31.200
集成电路电磁抗扰度测量第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法(IEC/TS 62132-9-2014)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2015-08-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
文件草案——集成电路——电磁抗扰度测量——第8部分:辐射抗扰度测量——IC带状线法(IEC 47A/811/CD:2009)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2009-05-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度的测量.集成电路带状线法(IEC 62132-8-2012);德文版EN 62132-8:2012
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2013-03-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
文件草案——集成电路——电磁抗扰度测量——第9部分:辐射抗扰度测量——表面扫描法(IEC 47A/887/CD:2012)
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【发布单位或类别】 DE-DIN德国标准化学会
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【发布日期】2012-11-01
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【CCS分类】
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【ICS分类】
英国标准EN 62132-8 集成电路 电磁抗扰度的测量 第八部分 辐射抗扰度的测量 集成电路带线法
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【发布单位或类别】 GB-BSI英国标准学会
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【发布日期】2009-02-03
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【CCS分类】
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【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托,寄样。
2、到样之后,确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议,进行试验。
5、完成试验,确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示:暂不接受个人委托测试
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