元器件位移损伤试验方法
原创来源：北检院 发布时间：2025-01-01 09:39:18 点击数：
全国服务领域：河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门
GB/T 42969-2023
元器件位移损伤试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2023-09-07
- 【CCS分类】L56半导体集成电路
- 【ICS分类】31.200集成电路、微电子学
GB/T 4937.35-2024
半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2024-03-15
- 【CCS分类】L40半导体分立器件综合
- 【ICS分类】31.080.01半导体器分立件综合
T/CNS 81-2022
电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2022-12-16
- 【CCS分类】F能源、核技术
- 【ICS分类】27.120.01核能综合
JB/T 7575-2013
机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】K04基础标准和通用方法
- 【ICS分类】19.040环境试验
JB/T 7574-2013
机械产品及元器件湿热环境大气暴露试验方法和导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】K04基础标准和通用方法
- 【ICS分类】19.040环境试验
JB/T 8683-2013
机械产品及元器件海洋环境大气暴露试验方法和导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】2013-12-31
- 【CCS分类】K04基础标准和通用方法
- 【ICS分类】19.040环境试验
QJ 840-1984
电子元器件环境技术要求和试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-QJ行业标准-航天
- 【发布日期】1985-02-01
- 【CCS分类】V06环境条件
- 【ICS分类】电子元器件综合
GB/T 1772-1979
电子元器件失效率试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1979-09-25
- 【CCS分类】L10电子元件综合
- 【ICS分类】31.020电子元器件综合
T/ZEIIA 02-2020
电子元器件用材料 电子浆料试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-TUANTI团体标准
- 【发布日期】2020-09-24
- 【CCS分类】L90电子技术专用材料
- 【ICS分类】31.020环境试验
SJ/T 11200-2016
环境试验 2-58部分：试验 试验Td：表面组装元器件可焊性、金属化层耐溶蚀性和耐焊接热的试验方法
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】2016-04-05
- 【CCS分类】A21环境条件与通用试验方法
- 【ICS分类】19.040环境试验
JB/T 8683-1998
机械产品及元器件海洋环境大气暴露试验方法 导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1998-03-11
- 【CCS分类】K00/09电工综合
- 【ICS分类】19.040环境试验
JB/T 7574-1994
机械产品及元器件湿热环境大气暴露试验方法和导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1994-12-09
- 【CCS分类】K00/09电工综合
- 【ICS分类】19.040环境试验
JB/T 7575-1994
机械产品及元器件寒冷环境大气暴露试验方法和导则
- 【发布单位或类别】 CN-JB行业标准-机械
- 【发布日期】1994-12-09
- 【CCS分类】K00/09电工综合
- 【ICS分类】19.040环境试验
IEC 60068-2-82:2019
环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子组件用元器件的晶须试验方法
- 【发布单位或类别】 IX-IEC国际电工委员会
- 【发布日期】2019-05-14
- 【CCS分类】环境条件与通用试验方法
- 【ICS分类】19.040环境试验
SJ/T 11200-1999
环境试验 第2部分:试验方法 试验Td:表面组装元器件的可焊性、金属化层耐熔蚀性和耐焊接热
- 【发布单位或类别】 CN-SJ行业标准-电子
- 【发布日期】1999-02-02
- 【CCS分类】A21
- 【ICS分类】19.040
KS R ISO 11452-6-2002(2007)
道路车辆窄带辐射电磁能产生的电气干扰元器件试验方法第6部分:平行平板天线
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】2002-05-06
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C 6017
电子元器件冲击强度试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C 6016
电子元器件冲击强度试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C 6020
电子元器件低气压试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
KS C 6022
电子元器件盐雾试验方法
- 【发布单位或类别】 KR-KS韩国标准
- 【发布日期】
- 【CCS分类】
- 【ICS分类】
检测流程
1、确认客户委托，寄样。
2、到样之后，确定具体的试验项目以及试验方案。
3、实验室报价。
4、签订保密协议，进行试验。
5、完成试验，确定检测报告
6、后期技术服务
友情提示：暂不接受个人委托测试
以上是关于"元器件位移损伤试验方法"的介绍，如有其他问题可以咨询工程师为您服务！
实验室仪器
荣誉资质
服务项目
SERVICE PROJECT
